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K150X Schichtdickenmonitor
- einstellbare Schichtdicken von 1-999
nm, Auflösung 0,1 nm
- operiert mit einer Resonanzfrequenz von 5 MHz
- Materialdichte bis 23 g/cm3 digital einstellbar
- Messbereich bis 999 nm
- incl. Elektronik, Probenbühne mit
Kristall & - oszillator,
3 Quarzkristalle
Gehäuse: 300 mm b x 40 mm h x 140 mm t, 2 kg
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