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Centaurus ... ein Detektor, drei Abbildungsmöglichkeiten
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Mit dem Centaurus Szintillationsdetektor erwerben Sie ein komplettes Detektorsystemen für Rückstreuelektronen (BSE), Kathodolumineszenz und STEM. Die unterschiedlichen Abbildungsmodi werden einfach durch den Austausch der Detektorspitze erreicht. Das spart Kosten im Budget und Platz in der REM-Kammer. Mit dem CENTAURUS bekommen Sie schnell und einfach eine höhere Informationsdichte und analysieren gezielter. Eigenschaften Rückstreuelektronendetektor
Der CENTAURUS ist ein BSE-Detektor auf Szintillatorbasis.
Seine besonderen Eigenschaften liegen in einer hohen Empfindlichkeit bei
geringen Beschleunigungsspannungen (bis 0,5 KEV) und einem hervorragenden
Atomnummernkontrast (<0,1 Z @ Z = 30). Da man unter 1,5 KEV kaum
Aufladungserscheinungen hat, ist er auch für die Abbildung unbeschichteter
oder strahlensensitiver Proben ideal. |
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Bild von unbeschichteter Probe mit Atomnummernkontrast |
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BSE-Bild von unbeschichteter Probe mit Topographie |
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Eigenschaften KL-Detektor (CL-Detektor)
Kathodolumineszenz-Detektor mit verschiedenen
Photomultipliern. Die ca. 10mm dicke Spitze detektiert empfindlich das Licht
mit dem standard Photomultiplier (300-650 nm) über einen großen
Raumwinkel. Beim Einsatz des Photomultipliers im Rotbereich (200-800 nm) muss mit einer geringen Empfindlichkeitseinbuße im BSE-Betrieb
gerechnet werden. Mit dem angebotenen Photomultiplier für den
Infrarotbetrieb (500-1100 nm) können keine Rückstreuelektronen abgebildet
werden. |
STEM Detektor |
STEM-Abbildung von Mikrofossil |
Eigenschaften
STEM-Detektor Für Abbildungen im Transmissionsmodus tauscht man die Spitze gegen einen TEM-Probenhalter aus, bei dem sich der Detektor unter der Probe befindet. Die Primärelektronen müssen also durch die Probe, bevor sie auf einen Spiegel mit Lichtleiter treffen. Hiermit lassen sich sowohl Hellfeld- als auch Dunkelfeldaufnahmen machen. Ein optionales Spezialprobenkarussell erlaubt die Analyse von 12 TEM Proben ohne Kammerbelüftung. |
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Das Halbleiter-Detektorsystem besteht aus einer scheibenförmigen Halbleiterkomponente, die in 4 einzelne Quadranten aufgeteilt ist. Jeder der 4 Quadranten kann positiv oder negativ belegt werden. Sind alle 4 positiv, erhält man ein Bild mit Atomnummernkontrast, bei 2 positiv und 2 negativ erhält man ein Bild mit topographischer Information. |
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Eigenschaften
Rückstreuelektronendetektor Detektorelemente mit unterschiedlicher Empfindlichkeit decken einen weiten Anwendungsbereich ab. Die Standardausführung arbeitet optimal von 4-30 KEV. Der Low-KEV-Detektor zeigt ab 1 KEV und der Ultra-Low-kV-Detektor ab 0,4 KEV Beschleunigungsspannung seine Stärken. Der Ultra-Low-KEV-Detektor ist besonders gut für die Betrachtung unbesputterter Proben bei ca. 1,5 KEV geeignet. Die Halbleiter Detektorenelemente kommen in verschiedenen Durchmessern von 6-35 mm. Für die meisten Analysen hat sich ein Scheibendurchmesser von 24 mm bewährt. Einzelne Detektorelemente sind auch für den Einsatz als Transmissionsdetektor erhältlich. Die Halbleiterdetektoren können bei Nichtgebrauch entweder zu Seite geklappt oder zurückgezogen werden. Eine UHV-Variante kann bis 200 °C ausgeheizt werden. Die Detektoreinstellungen werden manuell am Steuergerät oder unter Windows® (Option) vorgenommen . Eigenschaften STEM-Detektor Der Detektor befindet sich in einer Probenhalterung, die ein TEM-Netzchen aufnehmen kann und gestattet Hell- und Dunkelfeldaufnahmen. |
Centaurus Detektorsysteme
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Halbleiter-Detektorsysteme
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Probenstrom-Messgerät
für reproduzierbare EDX-Analysen.
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Infrarotkamera
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Anfang |
MiniScope MS25 Funktion vergleichbar mit ChamberScope. Abmessungen sind sehr klein . Einsetzbar wenn alle Ports besetzt oder Detektoren sich in ihrer Anordnung stören. Kann an jedem beliebigen Ort in der Analysenkammer installiert werden. |
CCD/TV Kamera:![]() |
525 oder 625 Linien, bitte bei Bestellung angeben Ausgang 75 Ohm Composite Video |
Steuereinheit: ![]() |
Gehäuse 142 mm b x 60 mm h x 240 mm t Für einige REM integrierbar. 110/240 V, 50/60 Hz |
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Weitere Produkte von K.E. Developments :
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Dynamic Contact
Angle Measurement System ![]() Aufbau |
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Trace Element Detector
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Bitte informieren Sie sich auch bei KED und erfragen Sie Einzelheiten bei GaLa Instrumente
GmbH.
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